В рамках XV научно-практической конференции «Обследование зданий и сооружений: проблемы и пути их решения» с докладом на актуальную для рынка тему выступил технический директор ООО «Архитектурная фотограмметрия», к.т.н., доцент СПбГУ Александр Евгеньевич Войнаровский. Его презентация была посвящена «Технологии калибровки наземных лазерных сканеров – решению актуальной научно-технической задачи».
В ходе выступления была детально рассмотрена проблема обеспечения метрологической надёжности дорогостоящего оборудования для лазерного сканирования в текущих условиях. Александр Евгеньевич представил разработанную в компании методику полной геометрической калибровки, которая позволяет:
✔ Диагностировать систематические ошибки сканера (коллимацию, смещение места зенита, наклоны осей).
✔ Создавать математическую модель ошибок для каждого конкретного прибора.
✔ Автоматически корректировать исходные данные измерений с помощью специализированного программного обеспечения, возвращая оборудованию заявленную точность.