Наша компания приняла участие в XV научно-практической конференции «Обследование зданий и сооружений: проблемы и пути их решения», посвященной памяти профессора В.Т. Гроздова. Это ключевое отраслевое мероприятие было организовано ООО «ОЗИС-Венчур» и Ассоциацией обследователей зданий и сооружений.
С докладом на актуальную для рынка тему выступил технический директор ООО «Архитектурная фотограмметрия», к.т.н., доцент СПбГУ Александр Евгеньевич Войнаровский. Его презентация была посвящена «Технологии калибровки наземных лазерных сканеров – решению актуальной научно-технической задачи».
Подробнее...